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德国P+F漫反射型光电传感器

德国P+F漫反射型光电传感器

简要描述:德国P+F漫反射型光电传感器 采用测量核心技术的漫反射型光电传感器 RL31-8-H-800-RT-IO/59/73c/136
经过成本优化的系列,适用于标准任务
测距修正感应功能
服务和过程数据 IO-link 接口
PowerBeam 发射器 LED
可精确地确定较大的调整范围
对目标颜色的敏感性低
清晰、实用的显示屏概念,适用于不同操作模式

产品型号:RL31-8-H-800-RT-IO/59/73c

访问次数:56

更新时间:2021-06-25

详细说明:

品牌P+F/德国倍加福应用领域化工,石油,能源,电子,印刷包装

德国P+F漫反射型光电传感器 

德国P+F漫反射型光电传感器 

产品

 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红色激光,激光等级 1 级,IO-Link,2 路推挽输出,M8 插头, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, DuraBeam 激光传感器 - 持久耐用,可像 LED 一样使用, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面

 
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带多个开关点的测量传感器, 微型设计,提供通用安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面, 对目标颜色的敏感性低

 
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采用测量核心技术的漫反射型光电传感器,大型外壳设计,带背景抑制功能及 3 个额外的可调节操作模式,IO-Link 接口,800 mm 可调节检测范围,红光,2 路推挽输出,M12 插头, 经过成本优化的系列,适用于标准任务, 测距修正感应功能, 服务和过程数据 IO-link 接口, PowerBeam 发射器 LED, 可精确地确定较大的调整范围

 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红色激光,激光等级 1 级,IO-Link,2 路推挽输出,2 m 固定缆线, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, DuraBeam 激光传感器 - 持久耐用,可像 LED 一样使用, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面
 
 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红光,IO-Link,2 路推挽输出,2 m 固定缆线, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面, 对目标颜色的敏感性低
 
 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红光,IO-Link,2 路推挽输出,2 m 固定缆线, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面, 对目标颜色的敏感性低
 
 
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带多个开关点的测量传感器,小型设计,带背景抑制功能,具有多个可调节的操作模式,IO-Link 接口 , 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面, 对目标颜色的敏感性低
 
 
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带多个开关点的测量传感器,小型设计,带背景抑制功能,具有多个可调节的操作模式,IO-Link 接口 , 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, DuraBeam 激光传感器 - 持久耐用,可像 LED 一样使用, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面
 
 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红光,IO-Link,2 路推挽输出,带 M12 插头的固定缆线, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面, 对目标颜色的敏感性低
 
 
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采用测量核心技术的开关漫反射型光电传感器,150 mm 检测范围,红色激光,激光等级 1 级,IO-Link,2 路推挽输出,带 M12 插头的固定缆线, 小型设计,提供多功能安装选项, 多像素技术 (MPT) - 灵活性和适应性, 减少了设备种类 - 一个传感器内设有多个开关点, DuraBeam 激光传感器 - 持久耐用,可像 LED 一样使用, 可以不受颜色和结构约束可靠地检测所有表面


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